Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України

Пошук

Деталі
Перегляди: 5850

Е.Ф. Венгер, Л.А. Матвеева, А.П. Клименко, Э.М. Шпилевский // Вторая научно-практическая конференция «Современные аспекты организации неразрушающего контроля качества продукции на промышленном предприятии», 1-8 мая 2004г., г.Сиде, Турция, с.26-27 (2004)