Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Новини
Журнал
Пошта
Ви тут:
Головна
Фізики і технології сенсорних систем
Відділ фізико-технологічних основ сенсорного матеріалознавства
Publications
dep12
dep-12-2015
Оцінка основних похибок вимірювання показника заломлення аналіту приладом на основі явища поверхневого плазмонного резонансу
Фізики напівпровідникових матеріалів і структур та їх діагностики
Фізики поверхні, оптоелектроніки і фотоніки
ТГц- і ІЧ- функціональної напівпровідникової мікро- та нанофотоелектроніки
Фізики і технології сенсорних систем
Відділ ростових технологій напівпровідникових матеріалів і структур
Відділ фізики і технології напівпровідникових структур та сенсорних систем
Відділ фізико-технологічних основ сенсорного матеріалознавства
Відділ функціональних перетворювачів для сенсорної техніки
Відділи загальноінститутського призначення
Деталі
Перегляди: 2479
Дорожинський Г.В. // Науковий Вісник Харківського політехнічного інституту,
№
36,
С.
20
-
22 (
2015)