 |
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України |
Наукові відділи Publications dep12 dep-12-2019 Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristicsV.A.Vashchenko, I.V.Yatsenko, Yu.I.Kovalenko, V.P.Kladko, O.Yo.Gudymenko, P.M.Lytvyn, A.A.Korchovyi, S.V.Mamykin, O.S.Kondratenko, V.P.Maslov, H.V.Dorozinska, G.V.Dorozinsky // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics, Vol.22, №4, P.444-451 (2019)
