Методика измерения темновых токов полупроводниковых многоэлементных структур при криогенних температурах

V. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukraine

Ф.Ф. Сизов, В.В. Забудський, А.Г. Голенков, Е.В. Андреева, Г.О. Губенко, И.А. Лысюк // КИП и автоматика, № 1, p.4–7 (2007)

Nav view search