Фрактальное кодирование и вейвлет обработка в применении к повышению диагностической информативности тепловых мекдицинских изображений

V. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukraine

You are here: Home

Е.В. Бехтир, Ф.Ф. Сизов // Электроника и связь, № 26, с. 54 – 60 (2005)

Nav view search