- Details
- Hits: 4005
В.П. Велещук, О.І. Власенко, З.К. Власенко, Д.М. Хміль, О.М. Камуз, С.Г. Неділько, В.П. Щербацький, Д.В. Гнатюк, В.В. Борщ, М.П. Киселюк. // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника 53 (2018) 181-187
- Details
- Hits: 3434
Костюкевич К.В., Ширшов Ю.М., Христосенко Р.В., Самойлов А.В., Ушенин Ю.В., Костюкевич С.А., Коптюх А.А., Суровцева О.Р. // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника 53 (2018)
- Details
- Hits: 3521
Кретуліс В.С., Мінакова І.Є., Олексенко П.Ф., Сорокін В.М. // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника 53 (2018) 161-168
- Details
- Hits: 3594
Костюкевич С.О., Христосенко Р.В., Костюкевич К.В., Коптюх А.А., Суровцева О.Р., Крючин А.А. // Реєстрація, зберігання і обробка даних 20(4) (2018) 15-25
- Details
- Hits: 3627
Л.О. Ревуцька, З.Л. Денисова, О.В.Стронський // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника, 53 (2018) 124-138
More Articles...
- Прямая запись поверхностного рельефа дифракционных решеток с использованием слоев селена как регистрирующих сред
- Enhancing parameters of silicon varactors using laser gettering
- Spectroscopic studies of Ni/CdTe/Au Schottky diode X/γ-ray detectors
- Запись поверхностных рельефных структур с использованием многослойных наносистем As2S3:Mn-Se