Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Фізики напівпровідникових матеріалів і структур та їх діагностики
Фізики поверхні, оптоелектроніки і фотоніки
ТГц- і ІЧ- функціональної напівпровідникової мікро- та нанофотоелектроніки
Відділ фізики і технології низьковимірних систем
Лабораторія фотонних напівпровідникових структур
Лабораторія фізики і технології формування напівпровідникових структур
Лабораторія мікросхемотехніки приймачів випромінювання
Відділ кінетичних явищ та поляритоніки
Відділ функціональних матеріалів і наноструктур
Фізики і технології сенсорних систем
Перспективні та інноваційні розробки
Деталі
Перегляди: 6358
Ф.Ф. Сизов, С.Л. Кравченко, В.П. Маслов, В.Г. Ефременко, Г.В. Шустакова // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. № 1, с. 48-49 (2004)