Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України
Пошук
Навігаційний перегляд пошуку
Навігація
Головна
Інститут
Наукові відділи
Проекти
Розробки
Освіта
Новини
Журнал
Пошта
Фізики напівпровідникових матеріалів і структур та їх діагностики
Фізики поверхні, оптоелектроніки і фотоніки
ТГц- і ІЧ- функціональної напівпровідникової мікро- та нанофотоелектроніки
Відділ фізики і технології низьковимірних систем
Лабораторія фотонних напівпровідникових структур
Лабораторія фізики і технології формування напівпровідникових структур
Лабораторія мікросхемотехніки приймачів випромінювання
Відділ кінетичних явищ та поляритоніки
Відділ функціональних матеріалів і наноструктур
Фізики і технології сенсорних систем
Перспективні та інноваційні розробки
Деталі
Перегляди: 5178
R.K. Savkina, A.B. Smirnov, A.I. Gudymenko, V.P. Kladko, F.F. Sizov, and C. Frigeri, Effect of stress on defect transformation in B+ and Ag+ implanted HgCdTe/CdZnTe structures, Acta Physica Polonica A, V.125, No 4, P.1003-1005 (2014).