Terahertz imaging of Landau levels in HgTe-based topological insulators

Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України

Національна академія наук України

Пошук

Деталі: Перегляди: 5927

A. M. Kadykov, J. Torres, S. S. Krishtopenko, C. Consejo, S. Ruffenach, M. Marcinkiewicz, D. But, W. Knap, S. V. Morozov, V. I. Gavrilenko, N. N. Mikhailov, S. A. Dvoretsky, and F. Teppe, “Terahertz imaging of Landau levels in HgTe-based topological insulators” / Appl. Phys. Lett., vol. 108, no. 26, 2016.

Пошук

Навігаційний перегляд пошуку

Навігація