- Деталі
- Перегляди: 8350
Nazarov A.N., Osiyuk I.N., Lysenko V.S., Gebel T., Rebohle L. and Skorupa W., Microelectronics Reliability, 42, 1461-1464. (2002)
 |
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН України
Національна академія наук України |
Nazarov A.N., Osiyuk I.N., Lysenko V.S., Gebel T., Rebohle L. and Skorupa W., Microelectronics Reliability, 42, 1461-1464. (2002)