- Деталі
- Перегляди: 6328
F. Sizov, Semicon. Sci ,Technol., 33, 123001 (2018)DOI: 10.1088/1361-6641/aae473
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
|
F. Sizov, Semicon. Sci ,Technol., 33, 123001 (2018)DOI: 10.1088/1361-6641/aae473