- Details
- Hits: 6485
Э.М. Шпилевский, Л.А. Матвеева // Материалы Двенадцатой ежегодной международной конференции «Современные методы и средства неразрушающего контроля и технической диагностики», 20-24 сентября, 2004г., Ялта, Украина, с.80-81 (2004)
V. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukraine
|
Э.М. Шпилевский, Л.А. Матвеева // Материалы Двенадцатой ежегодной международной конференции «Современные методы и средства неразрушающего контроля и технической диагностики», 20-24 сентября, 2004г., Ялта, Украина, с.80-81 (2004)