Ризик медичного діагностичного опромінення

V. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics of National Academy of Sciences of Ukraine

О.Б. Сіднєв // журнал MED @ TECH «Медицинская техника и оборудование» №3 октябрь 2008, К.: «Издательский дом «МедиаФорсажГрупп», с.64-66 (2008)

Nav view search